[发明专利]非接触式的流体厚度检测系统以及方法无效

专利信息
申请号: 03156552.2 申请日: 2003-09-08
公开(公告)号: CN1595055A 公开(公告)日: 2005-03-16
发明(设计)人: 朱华堂;陈华成;吴金庆;赵士齐;李佳怡 申请(专利权)人: 碧悠国际光电股份有限公司
主分类号: G01B11/06 分类号: G01B11/06;G01B17/02;G02F1/1345;B05C1/00
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 代理人: 王占梅
地址: 台湾省*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明是提供一种制造玻璃基板的非接触式的流体厚度检测系统,是用以测量一溢流成型系统中预定位置的流体厚度。溢流成型系统包含一溢流槽,溢流槽用以盛装流体,可使流体溢流出溢流槽,并沿着溢流槽的槽体外壁向下流动。流体厚度检测系统包含一非接触式的测距仪器、以及一移动装置。非接触式的测距仪器是用以测量测距仪器与物体表面间的距离,其中藉由测距仪器与溢流槽表面间的距离,以及测距仪器与流体表面间的距离,可以得到流体的厚度。移动装置用以移动测距仪器,其中藉由移动装置移动测距仪器,流体厚度检测系统可测量溢流成型系统中预定位置的流体厚度。
搜索关键词: 接触 流体 厚度 检测 系统 以及 方法
【主权项】:
1、一种非接触式的流体厚度检测系统,是用以测量一溢流成型系统中预定位置的流体厚度,该溢流成型系统包含一溢流槽,该溢流槽包含一槽底表面以及二相对的槽体外壁,该溢流槽用以盛装该流体,可使该流体溢流出该溢流槽,并沿着所述的槽体外壁向下流动,其特征是包含:一非接触式的第一测距仪器,该第一测距仪器是用以测量该第一测距仪器与物体表面间的距离,其中藉由测量该第一测距仪器与该溢流槽的槽底表面间的距离,以及该第一测距仪器与该槽底表面上方的流体表面间的距离,可以得到该溢流槽槽底表面上方的流体厚度;二非接触式的第二测距仪器,该等第二测距仪器是用以测量该等第二测距仪器与物体表面间的距离,其中藉由分别测量该二第二测距仪器与该二槽体外壁间的距离,以及该等第二测距仪器与沿着该槽体外壁所溢流的相对应流体表面间的距离,可以得到沿着该槽体外壁所溢流的流体厚度;以及一移动装置,该移动装置用以从该溢流槽之一端,沿着该溢流槽移动该第一测距仪器以及所述的第二测距仪器至该溢流槽的另一端;其中,藉由该移动装置移动该第一测距仪器以及所述的第二测距仪器,该流体厚度检测系统可测量该溢流成型系统中预定位置的流体厚度。
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