[发明专利]位置测量装置有效
| 申请号： | 03158741.0 | 申请日： | 2003-09-22 |
| 公开（公告）号： | CN1493852A | 公开（公告）日： | 2004-05-05 |
| 发明（设计）人： | E·施特拉瑟 | 申请（专利权）人： | 约翰尼斯海登海恩博士股份有限公司 |
| 主分类号： | G01D5/245 | 分类号： | G01D5/245;G01D5/249 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 吴立明;张志醒 |
| 地址： | 联邦德国特*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 在增量刻度(6)的刻度周期(P1)内中集成一个参照标记(R)。用检测器安排(7.6)扫描增量刻度(6)，由此得到多个周期性的扫描信号(A1至D8)，把这些扫描信号输送到分析装置(8)。所述的分析装置(8)从收扫描信号(A1至D8)产生刻度周期(P1至P8)内的绝对位置(Q)以及另一个绝对位置(Z)，后者绝对地确定参照标记(R)沿检测器安排(7.6)的位置。 | ||
| 搜索关键词： | 位置 测量 装置 | ||
【主权项】：
1.位置测量装置，具有：-周期性的增量刻度(6)，所述刻度(6)带有在测量范围(C1、C2、C3)内的多个刻度周期(P1至P8)；-安排在该测量范围(C1、C2、C3)内并且集成在增量刻度(6)中的参照标记(R)；-检测元件(A、B、C、D)在至少测量范围(C1、C2、C3)长度上的安排(7.6)，用于产生多个周期性的扫描信号(A1至D8)，其中至少一个由参照标记(R)被局域地修改了；-分析装置(8)用于接收扫描信号(A1至D8)并且用于在扫描信号(A1至D8)中检测所述至少一个通过参照标记(R)修改了的扫描信号(A1、B1)以及用于依据检测的扫描信号(A1、B1)确定测量范围(C1、C2、C3)的长度以内的参照标记(R)的绝对位置(Z)。
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