[发明专利]工业应用的相控阵超声检测方法无效
| 申请号： | 03159421.2 | 申请日： | 2003-09-16 |
| 公开（公告）号： | CN1530651A | 公开（公告）日： | 2004-09-22 |
| 发明（设计）人： | T·J·巴青格;W·李;R·S·吉尔摩;E·J·尼特尔斯;W·T·哈特菲尔德;R·E·克拉尔森;J·N·巴辛格;B·H·海德;C·L·查勒克;R·J·麦克利戈特;D·C·弗兰克林 | 申请（专利权）人： | 通用电气公司 |
| 主分类号： | G01N29/04 | 分类号： | G01N29/04 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 杨凯;陈霁 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 用于检测元件(10)的一种方法包括激励形成阵列(14)的多个换能器(12)，产生聚焦到元件的超声发射束(超声束)。阵列和元件由间隔物(18)分开。利用换能器产生多个回声信号，并在多个频道(20)中处理回声信号。处理包括动态聚焦和提供动态接收孔径(24)，二者均可补偿超声束在元件/间隔物界面的折射。一种单次检测方法包括：(a)定位面对元件的阵列；(b)激励换能器；(c)产生多个回声信号；(d)围绕轴(26)改变阵列和元件的相对角度定向，并重复步骤(b)和(c)；以及(e)处理回声信号，以形成至少一个处理的回声信号。 | ||
| 搜索关键词： | 工业 应用 相控阵 超声 检测 方法 | ||
【主权项】：
1.检测元件(10)的一种方法，包括：(a)激励形成阵列(14)的多个换能器12，以产生沿所选的射线路径(16)从阵列聚焦到元件的超声发射束，所述阵列被材料速度为vw的间隔物(18)从所述元件分隔开；(b)利用换能器作为接收元件(12)产生多个回声信号；以及(c)处理多个频道(20)中的所述回声信号，所述处理包括：(i)沿所述所选的射线路径将所述回声信号动态聚焦到所述元件中至少一个焦点P，其中所述动态聚焦包括：(A)调节延迟波形，以补偿所述超声发射束在所述元件和所述间隔物之间界面(22)上的折射；(B)将所述延迟波形加到所述各频道中的所述回声信号，以产生多个延迟的回声信号；(ii)调节活性接收元件数作为波幅Rs的函数，提供接收动态孔径(24)，其中所述调节活性接收元件数包括补偿超声发射束在元件和间隔物之间界面上的折射；(iii)合计来自所有所述活性接收元件的所述延迟回声信号，以产生聚焦的回声信号。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于通用电气公司，未经通用电气公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/03159421.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
