[发明专利]电子零件的试验方法及试验装置有效
| 申请号： | 03160162.6 | 申请日： | 2003-09-26 |
| 公开（公告）号： | CN1494095A | 公开（公告）日： | 2004-05-05 |
| 发明（设计）人： | 神谷岳 | 申请（专利权）人： | 株式会社村田制作所 |
| 主分类号： | H01G4/30 | 分类号： | H01G4/30;H01G13/00;H01C7/04;H01L21/66;H01L21/326;G01R31/00 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所 | 代理人： | 包于俊 |
| 地址： | 日本京都*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明电子零件试验方法及装置要解决的课题是对具有负电阻温度特性的电子零件，能够边使其自身发热温度保持一定边对电子零件施加规定负荷量。该方法是设定由老化温度、老化电压以及老化时间决定的规定的负荷量，加上与负荷量等量的负荷对电子零件进行老化的方法，包含将具有负电阻温度特性的电子零件放置在低于老化温度的规定温度下，使电子零件的温度为规定温度的第1步骤、对电子零件通以恒定电流并控制其温度使其从规定温度升到老化温度的第2步骤、及在老化温度下比较电子零件上的实际外加电压与老化电压，根据该比较修正老化时间并求出修正老化时间，基于该修正老化时间对电子零件通以恒定电流的第3步骤。 | ||
| 搜索关键词： | 电子零件 试验 方法 试验装置 | ||
【主权项】：
1.一种电子零件的试验方法，是设定由老化温度、老化电压以及老化时间决定的规定的负荷量，加上与所述负荷量等量的负荷对电子零件进行老化的电子零件的试验方法，其特征在于，包含将具有负电阻温度特性的电子零件放置在低于老化温度的规定温度下，使所述电子零件的温度为所述规定温度的第1步骤、对电子零件通以恒定电流，控制电子零件的温度从所述规定温度上升到老化温度的第2步骤、以及在所述老化温度中，把外加在电子零件上的实际外加电压与所述老化电压进行比较，根据该比较修正所述老化时间并求出修正老化时间，基于该修正老化时间对电子零件通以恒定电流的第3步骤。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社村田制作所，未经株式会社村田制作所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/03160162.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：防雷击防干扰容性变压器
- 下一篇：熔断电路及显示驱动电路
