[实用新型]长余辉荧光粉发光特性自动测试装置无效
申请号: | 03201032.X | 申请日: | 2003-01-16 |
公开(公告)号: | CN2646698Y | 公开(公告)日: | 2004-10-06 |
发明(设计)人: | 张保洲;王术军;刘宏亮;蒋静芬;李子英 | 申请(专利权)人: | 张保洲 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;G01J3/443 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100875北京市海*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本实用新型涉及一种长余辉荧光粉发光特性自动测试装置,更确切地说是在正常照明条件下,能完成全过程自动测试长余辉荧光粉发光特性的自动测试装置的实用新型。它由模拟D65光源、电动快门、测试器、光度计、照度监视器和计算机CPU构成。模拟D65光源通过激发路光纤分别与电动快门、照度监视器连接,电动快门又经测量路光纤接测试器,测试器通过测量路光纤接光度计,光度计、电动快门、照度监视器及模拟D65光源又通过电缆分别与计算机CPU相连。本实用新型其结构设计简单,布局紧凑,操作简便。可在正常照明条件下,准确地全过程的自动对长余辉荧光粉发光特性进行测试,可获得完整的理想测试结果。 | ||
搜索关键词: | 余辉 荧光粉 发光 特性 自动 测试 装置 | ||
【主权项】:
1、一种长余辉荧光粉发光特性自动测试装置,包括有模拟D65光源、光度计、照度监视器和计算机CPU,其特征在于:模拟D65光源通过激发路光纤分别与照度监视器、测试器连接,测试器经测量路光纤接光度计,光度计、照度监视器及模拟D65光源又通过电缆分别与计算机CPU相连。
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