[实用新型]长余辉荧光粉发光特性自动测试装置无效

专利信息
申请号: 03201032.X 申请日: 2003-01-16
公开(公告)号: CN2646698Y 公开(公告)日: 2004-10-06
发明(设计)人: 张保洲;王术军;刘宏亮;蒋静芬;李子英 申请(专利权)人: 张保洲
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64;G01J3/443
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100875北京市海*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型涉及一种长余辉荧光粉发光特性自动测试装置,更确切地说是在正常照明条件下,能完成全过程自动测试长余辉荧光粉发光特性的自动测试装置的实用新型。它由模拟D65光源、电动快门、测试器、光度计、照度监视器和计算机CPU构成。模拟D65光源通过激发路光纤分别与电动快门、照度监视器连接,电动快门又经测量路光纤接测试器,测试器通过测量路光纤接光度计,光度计、电动快门、照度监视器及模拟D65光源又通过电缆分别与计算机CPU相连。本实用新型其结构设计简单,布局紧凑,操作简便。可在正常照明条件下,准确地全过程的自动对长余辉荧光粉发光特性进行测试,可获得完整的理想测试结果。
搜索关键词: 余辉 荧光粉 发光 特性 自动 测试 装置
【主权项】:
1、一种长余辉荧光粉发光特性自动测试装置,包括有模拟D65光源、光度计、照度监视器和计算机CPU,其特征在于:模拟D65光源通过激发路光纤分别与照度监视器、测试器连接,测试器经测量路光纤接光度计,光度计、照度监视器及模拟D65光源又通过电缆分别与计算机CPU相连。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于张保洲,未经张保洲许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/03201032.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top