[实用新型]差动离焦并行全场三维检测装置无效
申请号: | 03220277.6 | 申请日: | 2003-03-06 |
公开(公告)号: | CN2600814Y | 公开(公告)日: | 2004-01-21 |
发明(设计)人: | 王永红;余晓芬;俞建卫;黄其圣 | 申请(专利权)人: | 合肥工业大学 |
主分类号: | G01N21/84 | 分类号: | G01N21/84;G01N21/95;G01B21/30 |
代理公司: | 安徽省合肥新安专利代理有限责任公司 | 代理人: | 何梅生 |
地址: | 230009*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 差动离焦并行全场三维检测装置,由光学探头、图像采集处理和位移机构组成,以中心点同处在a光轴线上、自一侧至另一侧依次设置点光源、准直透镜、微透镜阵列、针孔阵列、a分束镜、物镜和可轴向移动的被测物载台;其特征是设置差动探测机构,在a分束镜的反射光轴线上设置b分束镜,在b分束镜的反射光轴线上以及在其透射光轴线上,分别设置反射光和透射光CCD探测器,两探测器的探测面在各自的光轴线上离焦设置,离焦距离相等、方向相反。本实用新型有效解决测量分辨率和速度间矛盾;有效抑制光源噪声和漂移产生的影响,提高测量精度。 | ||
搜索关键词: | 差动 并行 全场 三维 检测 装置 | ||
【主权项】:
1、差动离焦并行全场三维检测装置,由光学探头、CCD图像采集处理和位移机构组成,所述光学探头以中心点同处在a光轴线(1)上、自一侧至另一侧依次设置为点光源(2)、准直透镜(3)、微透镜阵列(4)、针孔阵列(5)、a分束镜(6)、物镜(7)和可轴向移动的被测物载台(8);其中a分束镜(6)的反射面与物镜(7)所在平面成45度角;其特征是设置差动探测机构,所述差动探测机构是在所述a分束镜(6)的反射光b光轴线(10)上设置b分束镜(9),在所述b分束镜(9)的反射光c光轴线(12)上以及在其透射光b光轴线(10)上,分别设置反射光CCD探测器(13)和透射光CCD探测器(11),两组探测器的探测面在各自的光轴线上离焦设置,并且两探测面离焦距离相等,离焦方向相反。
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