[实用新型]测试EEPROM的电路无效
| 申请号： | 03231630.5 | 申请日： | 2003-05-30 |
| 公开（公告）号： | CN2626013Y | 公开（公告）日： | 2004-07-14 |
| 发明（设计）人： | 王立辉;陈桂岭;印义言 | 申请（专利权）人： | 上海华园微电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00;G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海开祺专利代理有限公司 | 代理人： | 李兰英 |
| 地址： | 200233上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种测试EEPROM的电路，本实用新型包括EEPROM(1)，微控制器(2)，显示驱动器(3)，数码显示器(4)；所述的微控制器(2)与EEPROM(1)双向连接，显示驱动器(3)在微控制器(2)控制下驱动所述的数码显示器(4)，数码显示器(4)将老化结果显示或者错误代码输出；本实用新型的有益效果是：通过测试并检测EEPROM真正的擦写寿命，保证了IC卡的安全使用。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 eeprom 电路 | ||
【主权项】：
1.一种测试EEPROM的电路，包括EEPROM(1)，其特征在于：还包括微控制器(2)，显示驱动器(3)，数码显示器(4)；所述的微控制器(2)与EEPROM(1)双向连接，显示驱动器(3)在微控制器(2)控制下驱动所述的数码显示器(4)，数码显示器(4)将老化结果显示或者错误代码输出。
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