[实用新型]自聚焦光纤透镜磨粒检测仪无效

专利信息
申请号: 03237276.0 申请日: 2003-09-03
公开(公告)号: CN2645078Y 公开(公告)日: 2004-09-29
发明(设计)人: 严新平;吕植勇;高慧良;黄俊;姜德生 申请(专利权)人: 武汉理工大学
主分类号: G01N21/59 分类号: G01N21/59
代理公司: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 代理人: 胡建平
地址: 430070湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 实用新型涉及一种磨粒检测仪。自聚焦光纤透镜磨粒检测仪,它包括光学耦合装置,光学耦合装置主要由灯(2)、透镜(3)、数码照相机或摄相机(4)、三棱镜(5)组成,其特征是:光学耦合装置连接一物镜装置,物镜装置包括自聚焦光纤(1)、电磁线圈(6)、发光二极管(8)、电源(10)、电源开关(11),自聚焦光纤(1)上绕有电磁线圈(6),电磁线圈(6)、发光二极管(8)分别由电源开关(11)与电源(10)相连接,在浸入油液的自聚焦光纤(1)的底端与发光二极管(8)之间留有间隙构成观察磨粒的油槽,物镜装置的自聚焦光纤(1)上端位于光学耦合装置的三棱镜(5)斜边正前方。它具有油液中磨粒在线检测的特点。
搜索关键词: 自聚焦 光纤 透镜 检测
【主权项】:
1.自聚焦光纤透镜磨粒检测仪,它包括光学耦合装置,光学耦合装置主要由灯(2)、透镜(3)、数码照相机或摄相机(4)、三棱镜(5)组成,其特征是:光学耦合装置连接一物镜装置,物镜装置包括自聚焦光纤(1)、电磁线圈(6)、发光二极管(8)、电源(10)、电源开关(11),自聚焦光纤(1)上绕有电磁线圈(6),电磁线圈(6)、发光二极管(8)分别由电源开关(11)与电源(10)相连接,在浸入油液的自聚焦光纤(1)的底端与发光二极管(8)之间留有间隙构成观察磨粒的油槽,物镜装置的自聚焦光纤(1)上端位于光学耦合装置的三棱镜(5)斜边正前方。
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