[实用新型]自聚焦光纤透镜磨粒检测仪无效
申请号: | 03237276.0 | 申请日: | 2003-09-03 |
公开(公告)号: | CN2645078Y | 公开(公告)日: | 2004-09-29 |
发明(设计)人: | 严新平;吕植勇;高慧良;黄俊;姜德生 | 申请(专利权)人: | 武汉理工大学 |
主分类号: | G01N21/59 | 分类号: | G01N21/59 |
代理公司: | 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 | 代理人: | 胡建平 |
地址: | 430070湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本实用新型涉及一种磨粒检测仪。自聚焦光纤透镜磨粒检测仪,它包括光学耦合装置,光学耦合装置主要由灯(2)、透镜(3)、数码照相机或摄相机(4)、三棱镜(5)组成,其特征是:光学耦合装置连接一物镜装置,物镜装置包括自聚焦光纤(1)、电磁线圈(6)、发光二极管(8)、电源(10)、电源开关(11),自聚焦光纤(1)上绕有电磁线圈(6),电磁线圈(6)、发光二极管(8)分别由电源开关(11)与电源(10)相连接,在浸入油液的自聚焦光纤(1)的底端与发光二极管(8)之间留有间隙构成观察磨粒的油槽,物镜装置的自聚焦光纤(1)上端位于光学耦合装置的三棱镜(5)斜边正前方。它具有油液中磨粒在线检测的特点。 | ||
搜索关键词: | 自聚焦 光纤 透镜 检测 | ||
【主权项】:
1.自聚焦光纤透镜磨粒检测仪,它包括光学耦合装置,光学耦合装置主要由灯(2)、透镜(3)、数码照相机或摄相机(4)、三棱镜(5)组成,其特征是:光学耦合装置连接一物镜装置,物镜装置包括自聚焦光纤(1)、电磁线圈(6)、发光二极管(8)、电源(10)、电源开关(11),自聚焦光纤(1)上绕有电磁线圈(6),电磁线圈(6)、发光二极管(8)分别由电源开关(11)与电源(10)相连接,在浸入油液的自聚焦光纤(1)的底端与发光二极管(8)之间留有间隙构成观察磨粒的油槽,物镜装置的自聚焦光纤(1)上端位于光学耦合装置的三棱镜(5)斜边正前方。
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