[实用新型]CCD测试实验装置无效

专利信息
申请号: 03259997.8 申请日: 2003-07-28
公开(公告)号: CN2702319Y 公开(公告)日: 2005-05-25
发明(设计)人: 丁苏红;王会生;付辉;胡鹏浩;高大军;赵鹤怀 申请(专利权)人: 合肥工业大学
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G09B19/00
代理公司: 安徽省合肥新安专利代理有限责任公司 代理人: 何梅生
地址: 230009*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: CCD测试实验装置,其特征是线阵CCD驱动电路及信号处理电路均采用模拟和数字电路;设置各单元信号外接测试点以及外引调试端口;以标注有外接测试点位置的电路图作为整机面板,各外接测试点以及外引调试端口设置在面板上。本实用新型作实验教学器具,可直接观察并调节数据处理电路中关健位置的信号处理过程,有利学生掌握如何正确使用数字和模拟器件,提高学生的动手能力和创新能力。本实用新型也可用于工业控制,具有更强的抗干扰性能,可靠性高。
搜索关键词: ccd 测试 实验 装置
【主权项】:
1、CCD测试实验装置,其特征是线阵CCD驱动电路及信号处理电路均采用模拟和数字电路;设置各单元信号外接测试点(A、B、C、D、E、F、G、H、I、J、K、L、M、N、O、P、Q和R)以及外引调试端口(O端口、P端口、P8端口、P9端口、J端口和K端口);以标注有外接测试点位置的电路图作为整机面板(1),各外接测试点以及外引调试端口设置在面板(1)上。
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