[发明专利]用于检查光学设备的方法和系统有效
| 申请号： | 03800495.X | 申请日： | 2003-02-21 |
| 公开（公告）号： | CN1518662A | 公开（公告）日： | 2004-08-04 |
| 发明（设计）人： | A·J·迪斯彭扎;M·F·维曼;K·H·吉尔斯;J·埃贝尔 | 申请（专利权）人： | 庄臣及庄臣视力保护公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 王岳;张志醒 |
| 地址： | 美国佛*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种检查光学设备的方法包括(a)利用光照明所述光学设备及环境背景，其中所述光包括第一波长带和第二波长带，其中所述第一波长带和所述第二波长带是不同的波长，以及其中所述第一波长带具有第一强度且所述第二波长带具有第二强度；(b)将所述光透射通过所述光学设备，其中大多数所述第一波长带被所述光学设备吸收且大多数所述第二波长带被透射通过所述光学设备，以及在感光性象素阵列上捕捉所述透镜透射光；(c)将所述光透射通过所述环境背景，其中大多数所述第一波长带和所述第二波长带被透射，以及在感光性象素阵列上捕捉所述背景透射光；(d)读取从步骤(b)和(c)所产生的象素并且比较所述读数的灰度标度值，其中从所述背景透射光以及从所述透镜透射光所产生象素的灰度标度值之间的差异是一个足以区分所述光学设备内孔与所述环境背景内泡的值。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检查 光学 设备 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种检查光学设备的方法包括：(a)利用光照明光学设备及环境背景，其中所述光包括第一波长带和第二波长带，其中所述第一波长带和所述第二波长带是不同的波长，以及其中所述第一波长带具有第一强度且所述第二波长带具有第二强度；(b)将所述光透射通过所述光学设备，其中大多数所述第一波长带被所述光学设备吸收且大多数所述第二波长带被透射通过所述光学设备，以及在感光性象素阵列上捕捉所述透镜透射光；(c)将所述光透射通过所述环境背景，其中大多数所述第一波长带和所述第二波长带被透射，以及在感光性象素阵列上捕捉所述背景透射光；(d)读取从步骤(b)和(c)所产生的象素并且比较所述读数的灰度标度值，其中从所述背景透射光以及从所述透镜透射光所产生象素的灰度标度值之间的差异是一个足以区分所述光学设备内孔与所述环境背景内泡的值。
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