[发明专利]用于生长氮化镓的基片、其制法和制备氮化镓基片的方法无效

专利信息
申请号: 03800646.4 申请日: 2003-01-23
公开(公告)号: CN1533593A 公开(公告)日: 2004-09-29
发明(设计)人: 秋田胜史;冈久拓司 申请(专利权)人: 住友电气工业株式会社
主分类号: H01L21/205 分类号: H01L21/205;C30B29/38
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 陈长会
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一起使用ELO掩膜和缺陷种子掩膜的方法生长很少有位错的GaN晶体。ELO掩膜使得GaN晶体不能直接生长,但是能横向生长;缺陷种子掩膜使得缺陷集中的封闭缺陷聚集区域生长。材料SiN、SiON或SiO2中任一种用于ELO掩膜,同时Pt、Ni或Ti材料中任一种用于缺陷种子掩膜。蓝宝石、GaAs、尖晶石、Si、InP、SiC等单晶基片或其中在这些的单晶基片上涂覆GaN缓冲层的下层基片,补充地提供ELO掩膜和缺陷种子掩膜以及GaN被气相沉积。
搜索关键词: 用于 生长 氮化 制法 制备 镓基片 方法
【主权项】:
1.一种氮化镓沉积基片,其特征在于它如下制成:作为蓝宝石、GaAs、InP、Si、SiC、尖晶石或GaN中任一种的单晶的下层基片,或其中GaN缓冲层形成到这些的单晶基片上的下层基片;由Ti、Pt或Ni中任一种制成的缺陷种子掩膜X,其规则地排列在下层基片上,没有窗口,仅为覆盖片,用作产生封闭缺陷聚集区域H的种子;和由SiON、SiO2或SiN中任一种制成的ELO掩膜,具有覆盖部分和许多以小周期规则排列的窗口,和缺陷种子掩膜规则地和补充地配置在下层基片顶部。
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