[发明专利]用于生长氮化镓的基片、其制法和制备氮化镓基片的方法无效
申请号: | 03800646.4 | 申请日: | 2003-01-23 |
公开(公告)号: | CN1533593A | 公开(公告)日: | 2004-09-29 |
发明(设计)人: | 秋田胜史;冈久拓司 | 申请(专利权)人: | 住友电气工业株式会社 |
主分类号: | H01L21/205 | 分类号: | H01L21/205;C30B29/38 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 陈长会 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一起使用ELO掩膜和缺陷种子掩膜的方法生长很少有位错的GaN晶体。ELO掩膜使得GaN晶体不能直接生长,但是能横向生长;缺陷种子掩膜使得缺陷集中的封闭缺陷聚集区域生长。材料SiN、SiON或SiO2中任一种用于ELO掩膜,同时Pt、Ni或Ti材料中任一种用于缺陷种子掩膜。蓝宝石、GaAs、尖晶石、Si、InP、SiC等单晶基片或其中在这些的单晶基片上涂覆GaN缓冲层的下层基片,补充地提供ELO掩膜和缺陷种子掩膜以及GaN被气相沉积。 | ||
搜索关键词: | 用于 生长 氮化 制法 制备 镓基片 方法 | ||
【主权项】:
1.一种氮化镓沉积基片,其特征在于它如下制成:作为蓝宝石、GaAs、InP、Si、SiC、尖晶石或GaN中任一种的单晶的下层基片,或其中GaN缓冲层形成到这些的单晶基片上的下层基片;由Ti、Pt或Ni中任一种制成的缺陷种子掩膜X,其规则地排列在下层基片上,没有窗口,仅为覆盖片,用作产生封闭缺陷聚集区域H的种子;和由SiON、SiO2或SiN中任一种制成的ELO掩膜,具有覆盖部分和许多以小周期规则排列的窗口,和缺陷种子掩膜规则地和补充地配置在下层基片顶部。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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