[发明专利]半导体处理用的成膜方法无效

专利信息
申请号: 03800913.7 申请日: 2003-07-11
公开(公告)号: CN1547624A 公开(公告)日: 2004-11-17
发明(设计)人: 横井裕明;善光哲;芦泽宏明;桥本毅 申请(专利权)人: 东京毅力科创株式会社
主分类号: C23C16/34 分类号: C23C16/34;H01L21/285
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人: 龙淳
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 半导体处理用的成膜方法包括:在将被处理基板(W)搬入处理室中之前,利用预涂敷被覆载置台(32)的预涂敷工序;在预涂敷工序后,将被处理基板(W)搬入处理室(21)中,在被处理基板(W)上形成主膜的成膜工序。预涂敷工序通过多次重复第1和第2工序,叠加多个弧形膜,形成预涂敷。在第1工序中,将第1和第2处理气体向处理室(21)中提供,在载置台(32)上形成包含金属元素的弧形膜。在第2工序中,将不包含金属元素的第2处理气体提供给处理室(21)中,将在第1工序中生成的形成弧形膜成分之外的副生成物,通过排气从处理室(21)中除去。
搜索关键词: 半导体 处理 方法
【主权项】:
1.一种半导体处理用的成膜方法,用于在载置于气密的处理室中的载置台上的被处理基板上,形成包含金属元素的膜,其特征在于,包括:(a)在将所述被处理基板搬入到所述处理室中之前,利用预涂敷来覆盖所述载置台的预涂敷工序;(b)在所述预涂敷工序后,将所述被处理基板搬入到所述处理室中,在所述被处理基板上形成主膜的成膜工序,所述预涂敷工序包括:第1工序,在加热所述载置台的同时一边将所述处理室中排气,一边将含有包括所述金属元素的原料气体的第1处理气体供给至所述处理室中,在所述载置台上形成包含所述金属元素的弧形膜;第2工序,在加热所述载置台的同时一边将所述处理室中排气,一边将不含有包括金属元素的原料气体的第2处理气体供给到所述处理室中,通过排气,将在所述第1工序中产生的、除了形成所述弧形膜的成分之外的副产生物从所述处理室中除去;以及通过多次重复所述第1和第2工序,层叠多层弧形膜,形成所述预涂敷的工序,所述成膜工序包括:将所述被处理基板搬入所述处理室中,载置到所述载置台上的工序;在加热所述载置台的同时一边将所述处理室中排气,一边将所述第1和第2处理气体供给至所述处理室中,在所述被处理基板上形成包含所述金属元素的所述主膜的工序。
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