[发明专利]半导体处理用的成膜方法无效
申请号: | 03800913.7 | 申请日: | 2003-07-11 |
公开(公告)号: | CN1547624A | 公开(公告)日: | 2004-11-17 |
发明(设计)人: | 横井裕明;善光哲;芦泽宏明;桥本毅 | 申请(专利权)人: | 东京毅力科创株式会社 |
主分类号: | C23C16/34 | 分类号: | C23C16/34;H01L21/285 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人: | 龙淳 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 半导体处理用的成膜方法包括:在将被处理基板(W)搬入处理室中之前,利用预涂敷被覆载置台(32)的预涂敷工序;在预涂敷工序后,将被处理基板(W)搬入处理室(21)中,在被处理基板(W)上形成主膜的成膜工序。预涂敷工序通过多次重复第1和第2工序,叠加多个弧形膜,形成预涂敷。在第1工序中,将第1和第2处理气体向处理室(21)中提供,在载置台(32)上形成包含金属元素的弧形膜。在第2工序中,将不包含金属元素的第2处理气体提供给处理室(21)中,将在第1工序中生成的形成弧形膜成分之外的副生成物,通过排气从处理室(21)中除去。 | ||
搜索关键词: | 半导体 处理 方法 | ||
【主权项】:
1.一种半导体处理用的成膜方法,用于在载置于气密的处理室中的载置台上的被处理基板上,形成包含金属元素的膜,其特征在于,包括:(a)在将所述被处理基板搬入到所述处理室中之前,利用预涂敷来覆盖所述载置台的预涂敷工序;(b)在所述预涂敷工序后,将所述被处理基板搬入到所述处理室中,在所述被处理基板上形成主膜的成膜工序,所述预涂敷工序包括:第1工序,在加热所述载置台的同时一边将所述处理室中排气,一边将含有包括所述金属元素的原料气体的第1处理气体供给至所述处理室中,在所述载置台上形成包含所述金属元素的弧形膜;第2工序,在加热所述载置台的同时一边将所述处理室中排气,一边将不含有包括金属元素的原料气体的第2处理气体供给到所述处理室中,通过排气,将在所述第1工序中产生的、除了形成所述弧形膜的成分之外的副产生物从所述处理室中除去;以及通过多次重复所述第1和第2工序,层叠多层弧形膜,形成所述预涂敷的工序,所述成膜工序包括:将所述被处理基板搬入所述处理室中,载置到所述载置台上的工序;在加热所述载置台的同时一边将所述处理室中排气,一边将所述第1和第2处理气体供给至所述处理室中,在所述被处理基板上形成包含所述金属元素的所述主膜的工序。
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C23 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的
C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
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