[发明专利]化学物质的检测装置以及化学物质的检测方法无效

专利信息
申请号: 03801491.2 申请日: 2003-06-27
公开(公告)号: CN1623088A 公开(公告)日: 2005-06-01
发明(设计)人: 山越英男;二见博;团野实;鹤我薰典;栗林志头真 申请(专利权)人: 三菱重工业株式会社
主分类号: G01N27/64 分类号: G01N27/64;H01J49/26
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 黄永奎
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的化学物质的检测装置(100)具备真空紫外光灯(3),通过该真空紫外光灯(3),将废气Gs中的检测对象化学物质离子化。被离子化的检测对象化学物质被封闭在内部形成高频电场的离子捕获装置(10)内。通过SWIFT波形(其包含将与该检测对象化学物质离子的轨道共振频率对应的频率排除的频率成分)提供给离子捕获装置(10)内的离子群能量并除去杂质。然后,通过TICKLE波形(具有对应于检测对象化学物质离子的轨道共振频率的频率成分)给上述离子群提供能量,并将检测对象化学物质的离子碎片化。然后,可通过质量分析计(4)测定该碎片的质量,以鉴定检测对象化学物质。
搜索关键词: 化学物质 检测 装置 以及 方法
【主权项】:
1.一种化学物质的检测装置,其特征为具备:将比检测对象化学物质的离子化电位大、且比该离子化电位与上述检测对象化学物质的离子的离解能之和小的能量提供给该检测对象化学物质,以将该检测对象化学物质离子化的离子化机构;通过电场、磁场及其他机构将含有通过上述离子化机构离子化的上述检测对象化学物质离子的离子群封闭的离子捕获机构;通过含有除去与上述检测对象化学物质离子的轨道共振频率对应的频率的频率成分的SWIFT波形,给上述离子群提供能量以除去杂质的杂质除去机构;以及测定上述检测对象化学物质的质量的质量分析机构。
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