[发明专利]X射线检测器及X射线检测器的制造方法无效
| 申请号： | 03803322.4 | 申请日： | 2003-02-10 |
| 公开（公告）号： | CN1628254A | 公开（公告）日： | 2005-06-15 |
| 发明（设计）人： | 本间克久;会田博之;伊藤健一;藤泽晶子;鬼桥浩志 | 申请（专利权）人： | 株式会社东芝 |
| 主分类号： | G01T1/20 | 分类号： | G01T1/20 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 包于俊 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 在具有设置在单位像素上的将X射线变换成光的闪烁层38、将在闪烁层38上变换成的光作为电荷贮存的贮存用电容器15、及将相邻单位像素的闪烁层38间分割的隔壁层39的X射线检测器中，闪烁层38含荧光材料I，隔壁层含光学特性和荧光材料IP1不同的第二种荧光体P2，而且第二种荧光体P2发出的荧光波长具有和荧光材料IP1发出的最短的荧光波长相等或比其长的成分。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 检测器 制造 方法 | ||
【主权项】：
1.一种X射线检测器，包括单位像素的光电变换单元、在所述光电变换单元的各像素上形成的闪烁像素、及所述闪烁像素间的隔壁，其特征在于，所述隔壁含有光学特性与所述闪烁像素内含的荧光材料I不同、而且具有与所述荧光材料I的最短荧光波长相等或比其长的最长荧光波长的荧光材料II。
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