[发明专利]光检测装置有效

专利信息
申请号: 03803643.6 申请日: 2003-02-12
公开(公告)号: CN1630810A 公开(公告)日: 2005-06-22
发明(设计)人: 水野诚一郎;山中辰己;藤井义磨郎 申请(专利权)人: 浜松光子学株式会社
主分类号: G01J1/44 分类号: G01J1/44;G01J1/02;G01T1/20;H01L27/14;H01L31/10;H04N5/335
代理公司: 上海市华诚律师事务所 代理人: 徐申民
地址: 日本国静*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及光检测装置。光检测装置(1)具备光电二极管PDn、积分电路(10n)、CDS电路(20n)及保持电路(30n)。积分电路(10n)包含放大器(11n)、电容器C及开关SW。在第1基板(100)上排列光电二极管(PDn)。在第2基板(200)上配置积分电路(10n)的放大器(11n)的差动对输入部(晶体管T1、T2)及电容器C等。在第3基板(300)上配置积分电路(10n)的放大器(11n)的驱动部(晶体管T5、T6)等。
搜索关键词: 检测 装置
【主权项】:
1.一种光检测装置,其特征在于,具备各自产生量值上对应于入射光强度的电荷的多个光电二极管,以及积分电路,该积分电路包含具有输入端侧的差动对输入部和输出端侧的驱动部的放大器、及设置于前述放大器的前述输入端与前述输出端之间的电容器和开关,前述开关断开时,使从前述光电二极管输入至前述输入端的电荷蓄积于前述电容器,并将对应于蓄积在前述电容器中的电荷量的电压从前述输出端输出;前述多个光电二极管设置在第1基板上,前述电容器及前述差动对输入部设置在第2基板上,前述驱动部设置在第3基板上,前述第1基板与前述第2基板相互利用凸块连接,前述光电二极管与前述积分电路的前述输入端相互电气连接。
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