[发明专利]X射线散射校正有效

专利信息
申请号: 03804321.1 申请日: 2003-02-21
公开(公告)号: CN1635850A 公开(公告)日: 2005-07-06
发明(设计)人: 劳拉·宁 申请(专利权)人: 罗切斯特大学
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 秦晨
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 在锥形束体积计算断层摄影或其他类似成像技术中,通过使用一个束补偿滤波器(蝴蝶结滤波器)(610),空气隙(G)技术,一个反散射栅格(612)降低x射线散射效应,通过使用一个束截捕器阵列(beam stop array)(602)联系插值卷积运算来校正x射线散射效应。在有束截捕器阵列(602)时拍摄图像,在没有束截捕器阵列(602)时拍摄大量的图像。对有束截捕器阵列(602)时拍摄的图像空间插值导出散射信息,然后对没有束截捕器阵列(602)时拍摄的图像进行角插值以提供尽量多的散射信息。通过三次样条函数插值或其他任何技术或低通滤波运算(以给定的卷积核进行卷积运算)进行插值。从相对应的没有束截捕器阵列(602)时拍摄的图像中每一个减去每一个散射图像,从而提供了一个散射-校正图像序列。
搜索关键词: 射线 散射 校正
【主权项】:
1.一种用于对对象进行成像并对散射校正的方法,该方法包括:(a)提供成像辐射源,束补偿滤波器,反散射栅格,用于成像辐射的探测器,对象和探测器之间的空气隙,以及束截捕器阵列;(b)围绕对象移动所述源和探测器;(c)当所述源和探测器围绕对象移动时,使用源、束补偿滤波器、束截捕器阵列、对象和探测器之间的空气隙、反散射栅格和探测器,在选定的不同投影角下拍摄对象的第一图像序列,以获得第一图像序列中每一个的散射分布样本,第一图像序列包括N’个图像;(d)不使用束截捕器阵列,使用源和探测器在不同的投影角下拍摄对象的第二图像序列,第二图像序列包括N个图像,N≥N’;(e)在对象的第一图像序列上进行投影角插值,得到一个散射图像序列,该散射图像序列包括N个图像,每一个对应于第二图像序列中N个图像中的一个;以及(f)得到一个初始图像序列,该初始图像序列包括N个图像,每一个根据第二图像序列的N个图像中对应的一个以及散射图像序列的N个图像中对应的一个而形成。
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