[发明专利]测量装置有效

专利信息
申请号: 03804692.X 申请日: 2003-02-28
公开(公告)号: CN1639561A 公开(公告)日: 2005-07-13
发明(设计)人: 松本大辅 申请(专利权)人: 爱科来株式会社
主分类号: G01N27/28 分类号: G01N27/28;G01N27/327;G01N27/416
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人: 龙淳
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种测量装置(A),具有加压机构(C),其在测量用具(S)配置到测量位置(P)时使测量用具(S)和连接器(4)的至少一方靠近另一方移动,从而使它们压接在一起。根据这样的构造,防止连接器(4)的磨耗引起的连接器(4)和测量用具(S)之间发生接触不良。
搜索关键词: 测量 装置
【主权项】:
1.一种测量装置,具有:将放置于规定位置的测量用具移送至可以与连接器接触的测量位置的测量用具移送机构,以及在所述测量用具接触到所述连接器时能够利用该测量用具进行测量处理的测量电路,其特征在于,具有加压机构,其在将所述测量用具配置于所述测量位置时,使所述测量用具和所述连接器的至少一方靠向另一方移动,并将它们进行压接。
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