[发明专利]带有基板异常检测电路的装置无效

专利信息
申请号: 03804950.3 申请日: 2003-02-25
公开(公告)号: CN1639579A 公开(公告)日: 2005-07-13
发明(设计)人: 平野耕作 申请(专利权)人: 株式会社爱德万测试
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 张立岩
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 可以准确地发现、防止半导体试验装置中的DSA误安装或连接器的连接不良。本发明的半导体试验装置,具有搭载在插座板(11)上的一组DSA(10a、10b)、和包括与该一组DSA(10a、10b)的各插座板(11)的连接器(14)连接的连接器的母板(20),还包括:ID设定用板,设定附与该DSA(10a、10b)的ID号码,输出表示该ID号码的ID信号;一致电路,输入由ID设定用板输出的ID信号,检测该ID信号的一致不一致;和菊花链电路,将来自母板(20)侧的连接器(21)之一的信号输入,经过对应的DSA侧的连接器(14),将信号顺次传送到所有的连接器(21、14),并检测有无输出信号。
搜索关键词: 带有 异常 检测 电路 装置
【主权项】:
1、一种带有基板异常检测电路的装置,具有由多个基板组合构成的至少一组基板群、和与该基板群连接的对方基板,其特征在于,具备:ID设定用板,其分别被设置在所述基板群的各个基板上,对该基板群设定所附与的规定ID号码,同时输出表示该ID号码的ID信号;ID信号输入板,其被设置在与所述基板群对应的对方基板上,输入由所述ID设定用板输出的各ID信号;和比较装置,输入由所述ID信号输入板输出的各ID信号,与对应的所述各基板的ID信号进行比较;检测所述基板群中基板的组合异常。
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