[发明专利]侦测器装置、电荷载体之侦测方法、及侦测电荷之ONO场效应晶体管之使用有效

专利信息
申请号: 03806020.5 申请日: 2003-03-12
公开(公告)号: CN1643700A 公开(公告)日: 2005-07-20
发明(设计)人: B·克诺特;G·坦普佩 申请(专利权)人: 因芬尼昂技术股份公司
主分类号: H01L29/792 分类号: H01L29/792
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 吴立明;张志醒
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明系相关于一侦测器装置(100),一种电荷载体之侦测方法,以及侦测电荷之ONO场效晶体管的使用。该侦测器装置(100)系具有具体实施于一基板(101)之上及/或之中的一ONO场效晶体管,以用于侦测电荷载体,而使得该等要进行侦测的电荷载体(103)系可以被导入该ONO场效晶体管层顺序(102)之中,一记录单元(104),其系被耦接至该ONO场效晶体管,以用于记录被导入该ONO层顺序(102)中之该等电荷载体(103)之数量及/或电荷载体型态的一电信号特征,以及一分析单元,以用于自该特征电信号决定出被导入该ONO层顺序(102)中之该等电荷载体(103)之数量及/或电荷载体型态。
搜索关键词: 侦测 装置 电荷 载体 方法 ono 场效应 晶体管 使用
【主权项】:
1.一种用于侦测电荷载体的侦测器装置,其系具有:-一ONO场效晶体管,其系形成于一基板之中及/或之上,并且,系以该等待侦测电荷载体可以被导入该ONO层顺序之中的方式而加以建立;-一缓存单元,其系被耦接至该ONO场效晶体管,并且,系以其会暂存被导入该ONO层顺序中之该等电荷载体之数量及/或电荷载体型态的一电信号特征的方式而加以建立;以及-一侦测器单元,其系用于自该特征电信号而侦测出被导入该ONO层顺序中之该等电荷载体之该数量及/或该电荷载体型态。
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