[发明专利]用于X射线计算机断层造影的检测器有效
申请号: | 03806269.0 | 申请日: | 2003-03-07 |
公开(公告)号: | CN1643619A | 公开(公告)日: | 2005-07-20 |
发明(设计)人: | 赫伯特·布鲁德;托马斯·弗洛尔;卡尔·施蒂尔斯托弗 | 申请(专利权)人: | 西门子公司 |
主分类号: | G21K1/02 | 分类号: | G21K1/02 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 马莹;邵亚丽 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 本发明涉及一种用于X射线计算机断层造影扫描器的检测器,其具有多个相邻的、在x方向上延伸的检测器行(5),其中,每个检测器行(5)由多个相邻设置的闪烁体元件(6)构成。为了提高在z方向上的分辨率以及简化检测器的结构,本发明提出,设置一个部分覆盖闪烁体元件(6)表面的装置,用于减小在z方向上的孔径。 | ||
搜索关键词: | 用于 射线 计算机 断层 造影 检测器 | ||
【主权项】:
1.一种用于X射线计算机断层造影的检测器,其具有多个相邻的、在x方向上延伸的检测器行(5),其中,每个检测器行(5)由多个相邻设置的闪烁体元件(6)构成,以及其中,每个关于入射的X射线束的闪烁体元件(6)的孔径由具有在z方向上延伸的长(Δz)和在x方向上延伸的宽(Δh)的表面给定,其特征在于,设置一个部分遮盖所述闪烁体元件(6)的表面的装置,用于在z方向上减小所述孔径。
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