[发明专利]受测试集成电路的预测性自适应电源

摘要

一主电源，其通过通道电阻向一受测试集成电路器件(DUT)的功率终端提供电流。IC内的晶体管响应时钟信号边沿而开关，测试期间，在提供给DUT的时钟信号边沿之后，该DUT在功率输入终端对电流的需求暂时性地增加。为了限制功率输入终端处的电压变化(噪声)，一辅助电源向该功率输入终端提供一附加电流脉冲，以满足每个时钟信号周期期间所增加的需求。该电流脉冲幅值是一个关于该时钟周期期间电流需求的预测增长与由一反馈电路控制的用来限制DUT功率输入终端处发生的电压变化的自适应信号幅值的函数。

主权项

1.一种在一半导体器件测试期间向该半导体器件供应电流的装置，其通过一集成电路测试器经在输入/输出(I/O)终端与该集成电路测试器之间提供信号通道的接口构件来访问该半导体器件的该等I/O终端，其中该半导体器件包含一功率输入终端用于经由一由该接口构件所提供的电源导线来接收电源电流，且其中该半导体器件在一作为输入被施加至该半导体器件的时钟信号的一组边沿的每个边沿之后暂时性地增加其对电源电流的需求，该装置包括：第一构件，用于该测试期间向该功率输入终端供应一第一电流；第二构件，用于在该时钟信号的该等边沿的每个边沿之后向该功率输入终端供应一电流脉冲以补偿该第一电流，其中该电流脉冲的幅值是一个关于由一预测信号及一自适应信号所表示出的幅值的函数；及第三构件，用于调节由该自适应信号所表示出的幅值，以响应一出现在该功率输入终端的电压；其中，将由该预测信号所表示出的幅值设置为与一预测量成比例，通过该预测量，该半导体器件将在下一个时钟信号边沿之后增加其在其功率输入终端对电流的需求。