[发明专利]电抛光和电镀方法有效
| 申请号： | 03808166.0 | 申请日： | 2003-04-11 |
| 公开（公告）号： | CN1685086A | 公开（公告）日： | 2005-10-19 |
| 发明（设计）人： | 王晖;王坚;易培豪;吴辉全 | 申请（专利权）人： | ACM研究公司 |
| 主分类号： | C25D5/00 | 分类号： | C25D5/00;C25D5/48;C25D5/52;C25D5/08;B23H11/00;B23H3/00;B23H5/00;B23H7/00;B23H9/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 付建军 |
| 地址： | 美国加*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 在本发明的一个方案中，提供了示例性方法以在晶片上电镀导电膜。方法包括第一密度的凹槽区上金属层平坦之前在第一电流密度范围内在具有凹槽区和非凹槽区上的半导体结构上电镀金属层，凹槽区上的金属层平坦之后在第二电流密度范围内电镀。第二电流密度范围大于第一电流密度范围。在一个例子中，方法还包括在第二电流密度范围内电镀直到第二密度的凹槽区之上的金属层平坦，第二密度大于第一密度，此后在第三电流密度范围内电镀。 | ||
| 搜索关键词： | 电抛光 电镀 方法 | ||
【主权项】：
1.一种在具有凹槽区和非凹槽区上的半导体结构上电镀金属层的方法，包括：在第一密度的凹槽区上金属层平坦之前在第一电流密度范围内电镀；以及凹槽区上的金属层平坦之后在第二电流密度范围内电镀，其中第二电流密度范围大于第一电流密度范围。
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