[发明专利]用于测试电路板的设备和方法以及用于该设备和方法的测试探头无效
申请号: | 03810114.9 | 申请日: | 2003-04-29 |
公开(公告)号: | CN1650181A | 公开(公告)日: | 2005-08-03 |
发明(设计)人: | 罗特哈格·乌韦;尤舒克·奥勒 | 申请(专利权)人: | 德商·Atg测试系统股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/067 |
代理公司: | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 孙皓晨 |
地址: | 德国威尔*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 本发明涉及测试印刷电路板的装置和方法,以及用于所述装置和方法的测试探头。根据本发明,在测试期间借助光检测装置监视指状测试器的指状测试元件的接触尖端,并且至少在逼近待测试印刷电路板的部分测试点时,根据光检测装置确定的结果,以接触尖端可靠地接触有关电路板测试点的方式校正接触尖端的移动。由此可以在校准数据的计算中使用所获得的校正数据。 | ||
搜索关键词: | 用于 测试 电路板 设备 方法 以及 探头 | ||
【主权项】:
1、电路板测试的设备,具有:固定待测试电路板(30)的安装区域;指状测试元件(1),该指状测试元件利用接触尖端(7)连续接触待测试电路板(30)的电路板测试点(36),其中可以借助移动装置(32、34、35)使指状测试元件沿待测试电路板表面移动,并且可以降低所述指状测试元件而使其接触尖端到达电路板(30);光检测装置(2、21、26、38),用于光检测指状测试元件的接触尖端(7)中的至少一个;分析单元,记录接触尖端的图像并确定探头尖端(7)相距待接触电路板测试点(36)中心的距离;和控制单元,根据由分析单元确定的探头尖端(7)相距待测试电路板测试点(36)的距离,控制探头尖端(7)的运动。
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