[发明专利]用于检测龋齿的系统和方法无效
| 申请号： | 03810347.8 | 申请日： | 2003-05-08 |
| 公开（公告）号： | CN1703162A | 公开（公告）日： | 2005-11-30 |
| 发明（设计）人： | 纳伊姆·卡拉津万;埃曼努埃尔·蒙蒂尼;弗朗索瓦·阿约特;穆罕默德·穆塔瓦基尔 | 申请（专利权）人： | 耐克斯技术有限公司 |
| 主分类号： | A61B5/00 | 分类号： | A61B5/00;A61C19/04 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人： | 王学强 |
| 地址： | 加拿大*** | 国省代码： | 加拿大;CA |
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| 摘要： | 一种用于检测牙齿(T)结构上的龋齿的系统，包括：电磁导体，用于将至少一个初始辐射(Ir)指引到待评价的牙齿结构上；电磁收集器，用于收集至少一个结果电磁辐射(Rr)，其已是作为初始辐射(Ir)的结果由牙齿(T)反射和被透射通过牙齿(T)的至少一个。所述收集器适合于将结果电磁辐射(Rr)提供给检测设备(D)。检测设备(D)适合于比较所述至少一个结果辐射(Rr)的至少一个强度与对应于龋齿的存在和不存在之一的至少一个预定值。这使得能够诊断牙齿结构上龋齿的存在或不存在。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 龋齿 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于检测牙齿结构上的龋齿的系统，包括：导体，用于将至少一个初始辐射指引到待评价的牙齿结构上；收集器，用于收集至少一个结果辐射，其已作为所述初始辐射的结果由牙齿反射和/或被透射通过牙齿，所述收集器适合于将所述结果辐射提供给检测设备，所述检测设备适合于比较所述至少一个结果辐射的至少一个强度与对应于龋齿的存在或不存在的至少一个预定值，从而使得能诊断牙齿结构上龋齿的存在或不存在。
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