[发明专利]有多个指令存储器的测试器系统无效
申请号: | 03810441.5 | 申请日: | 2003-05-08 |
公开(公告)号: | CN1653345A | 公开(公告)日: | 2005-08-10 |
发明(设计)人: | 杰米·S.·库仑;克瑞斯·萨凯泰尼 | 申请(专利权)人: | 尼佩泰斯特公司 |
主分类号: | G01R31/317 | 分类号: | G01R31/317;G01R31/319 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 蒋世迅 |
地址: | 美国加*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种用于测试集成电路的设备,包括:有输出通道的序列控制逻辑单元,输出通道可连接到被测器件的输入插针;用于存储第一指令组的第一存储器,第一指令组包含序列控制逻辑单元可执行的指令;和用于存储第二指令组的第二存储器,第二指令组包含序列控制逻辑单元可执行的指令,其中第一存储器和第二存储器中至少一个存储器包括:按照非顺序方式可访问的存储器。 | ||
搜索关键词: | 有多个 指令 存储器 测试 系统 | ||
【主权项】:
1.一种用于测试集成电路的设备,该设备包括:有输出通道的序列控制逻辑单元,输出通道可连接到被测器件的输入插针;用于存储第一指令组的第一存储器,第一指令组包含序列控制逻辑单元可执行的指令;和用于存储第二指令组的第二存储器,第二指令组包含序列控制逻辑单元可执行的指令,其中第一存储器和第二存储器中至少一个存储器包括按照非顺序方式可访问的存储器。
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