[发明专利]用于校准和去嵌入的方法、用于去嵌入的装置组和矢量网络分析仪无效

专利信息
申请号: 03810907.7 申请日: 2003-05-08
公开(公告)号: CN1735815A 公开(公告)日: 2006-02-15
发明(设计)人: L·F·蒂梅杰 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00;G01R27/28
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 程天正;陈景峻
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 用于校准N个端微波测量网络(10)的方法的精度(该方法包括测量负载装置(43)的网络参数值)取决于对负载装置(43)的寄生阻抗的知识。按照本发明,该方法的精度可以通过至少近似确定负载装置(43)的寄生阻抗而改进。在一个实施例中,这是通过测量具有与负载装置(43)基本上相同的寄生阻抗的辅助开路装置(44)的网络参数值达到的。该精度还可通过测量具有与负载装置(43)基本上相同的寄生阻抗的辅助短路装置(45)的网络参数值而进一步提高。类似的原理可被使用于去嵌入待测装置。公开了具有基本上相同的寄生阻抗的负载装置(43)、辅助开路装置(44)和辅助短路装置(45)。
搜索关键词: 用于 校准 嵌入 方法 装置 矢量 网络分析
【主权项】:
1.用于校准具有N个端的微波测量网络(10)的方法,N是大于1的整数,微波测量网络(10)包括矢量网络分析仪(11)和多个探头尖(12,13),微波测量网络(10)具有在矢量网络分析仪(11)与多个探头尖(12,13)之间的寄生阻抗,所述方法包括以下步骤:-测量具有互相电绝缘的N个端(81)的开路装置(41)的开路网络参数值;-测量具有通过导体(46)互相电连接的N个端(82)的短路装置(42)的短路网络参数值,每个导体(46)具有短路装置直流电阻;-测量具有通过电阻(47)互相电连接的N个端(83)的负载装置(43)的负载网络参数值,每个电阻(47)具有大于短路装置直流电阻的负载装置(43)直流电阻,负载装置(43)具有寄生负载阻抗,以及-确定在矢量网络分析仪(11)与探头尖(12,13)之间的寄生阻抗,其特征在于,该方法还包括在确定在矢量网络分析仪(11)与探头尖(12,13)之间的寄生阻抗的步骤之前确定寄生负载阻抗的步骤。
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