[发明专利]模块测试设备有效
| 申请号： | 03811054.7 | 申请日： | 2003-06-10 |
| 公开（公告）号： | CN1653343A | 公开（公告）日： | 2005-08-10 |
| 发明（设计）人： | 中谷和义 | 申请（专利权）人： | 株式会社村田制作所 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/316;G01R31/319 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 陈瑞丰 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种布线图电路，包括在模块控制电路和模块之间的一部分布线。由于布线图电路包括PLD，可以根据该模块控制电路和该模块的规格可变地配置其布线。因此，有利于模块控制电路的构造。另外，由于不必为多个不同模块中的每一个的测试单独提供印刷布线图，因此可以降低测试期间涉及的测试周期、人工以及成本。 | ||
| 搜索关键词： | 模块 测试 设备 | ||
【主权项】：
1.一种用于测试模块的模块测试设备，包括：至少一个模块控制电路，包括第一可编程逻辑器件，所述至少一个模块控制电路将测试控制信号提供给模块；I/O端口，用于向外部设备发送信号并从其接收信号；第一布线图电路，包括第二可编程逻辑器件，所述第一布线图电路包括所述至少一个模块控制电路和所述I/O端口之间的至少部分布线；以及配置电路，用于根据输入信息来构建所述至少一个模块控制电路和所述第一布线图电路的电路配置。
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