[发明专利]采用组件不变微调延迟线的定时测量系统和方法无效
| 申请号： | 03811561.1 | 申请日： | 2003-03-24 |
| 公开（公告）号： | CN1656384A | 公开（公告）日： | 2005-08-17 |
| 发明（设计）人： | G·W·罗伯茨;陈浩明 | 申请（专利权）人： | 麦克吉尔大学 |
| 主分类号： | G01R29/26 | 分类号： | G01R29/26;G01R23/12;G04F10/00 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 杨凯;张志醒 |
| 地址： | 加拿大*** | 国省代码： | 加拿大;CA |
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| 摘要： | 近年来，已经为改进采用延迟锁定环(DLL)和微调延迟线(VDL)技术的定时及抖动测量装置的性能进行了许多努力。但是，这些方法要求高度匹配的元件以便减少微分非线性定时误差。在减少对元件匹配的要求的尝试中，公开了一种组件不变VDL技术，它使测量装置能够从RTL描述中合成。本发明基于单级VDL结构，它用来模仿完整VDL的行为。此外，由于测试时间在生产测试过程中是一个重要的考虑事项，因此提供了通过附加硬件来减少测试时间的方法和系统。 | ||
| 搜索关键词： | 采用 组件 不变 微调 延迟线 定时 测量 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于测量第一事件与第二事件之间的时间差的方法，包括以下步骤：在检测到所述第一事件时，触发第一振荡器电路产生具有振荡周期Ts的第一振荡信号；在检测到所述第二事件时，触发第二振荡器电路产生具有振荡周期Tf的第二振荡信号，其中Ts大于Tf，以及Ts与Tf之间的差ΔT相对于Ts和Tf中任一个而言均较小；计算所述第二振荡器电路的循环次数Nm；检测所述第一与第二振荡信号之间的相位变化；以及根据Ts与Tf之间的所述差ΔT以及出现所述检测的相位变化时所述第二振荡器电路的循环次数的计数来确定所述第一与所述第二事件之间的时间差。
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