[发明专利]元素特定的X射线荧光显微镜以及操作方法有效
| 申请号： | 03812321.5 | 申请日： | 2003-05-29 |
| 公开（公告）号： | CN1656373A | 公开（公告）日： | 2005-08-17 |
| 发明（设计）人： | 云文兵;肯尼斯·W·尼尔 | 申请（专利权）人： | 埃克斯射线有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223;G01N23/225;G21K1/06 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人： | 王学强 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种利用由初级电离辐射所感应出的元素特定荧光X射线的元素特定成像技术。然后通过使用光学列，来自感兴趣元素的荧光X射线被优先地成像到检测器上。通过使用被适当配置的成像系统中的色透镜，获得光学列的优先成像。波带片是这种色透镜的实例；其焦距与X射线的波长成反比。如果波带片本身由包括基本上相同元素的化合物制成，则可以获得测试试样中给定元素的优先成像的增强。例如，当使用CuLa光谱线对铜成像时，铜波带片透镜被采用。 | ||
| 搜索关键词： | 元素 特定 射线 荧光显微镜 以及 操作方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于检测测试物体中感兴趣元素的方法，所述过程包括：照射所述测试物体以从感兴趣元素中感应出二级荧光X射线辐射；以及优先地将来自感兴趣元素的二级荧光X射线辐射成像到检测器上。
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