[发明专利]测试电子部件的装置和方法无效
| 申请号： | 03812743.1 | 申请日： | 2003-06-03 |
| 公开（公告）号： | CN1659442A | 公开（公告）日： | 2005-08-24 |
| 发明（设计）人： | E·H·格鲁特 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 吴立明;梁永 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 一种装置(1)和方法用于测试电子部件(21)，该装置包括测试机构(2)和安装机构(3)，该安装机构(3)在远离测试机构(2)的一侧上包括部件接触表面(14)，其中部件接触表面提供有连接至真空装置(19)的真空腔。该安装机构提供有加热元件(24)，通过该加热元件可以加热部件接触表面。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 电子 部件 装置 方法 | ||
【主权项】：
1、一种用于测试电子部件的装置，该装置提供有测试机构和紧固机构，该紧固机构在背离测试机构的一侧上包括部件接触表面，其特征在于部件接触表面提供有连接至真空装置的真空腔。
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