[发明专利]缺陷图像采样的错误图像采样数据的检测设备和方法无效
| 申请号： | 03815788.8 | 申请日： | 2003-06-23 |
| 公开（公告）号： | CN1666501A | 公开（公告）日： | 2005-09-07 |
| 发明（设计）人： | C·卡斯特尔洛;P·库马尔;A·W·M·科索特 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | H04N5/217 | 分类号： | H04N5/217 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 程天正;王勇 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 建议了一种用于对来自一个像素矩阵的废弃或者干扰像素的像素信息进行动态修复的实时像素校正算法。该算法适用于CCD和CMOS成像器。 | ||
| 搜索关键词： | 缺陷 图像 采样 错误 数据 检测 设备 方法 | ||
【主权项】：
1.从多个图像采样数据中检测缺陷图像采样的错误图像采样数据的方法，多个图像采样数据包括分配了第一彩色的第一数目图像采样数据以及分配了第二彩色的至少第二数目的图像采样数据，其中测试中的图像采样数据相对于其它图像采样数据而被测试并且-相对于被分配了与测试中的图像采样数据所分配的彩色相同的其它图像采样数据执行第一种测试；以及-相对于被分配了与测试中的图像采样数据所分配的彩色不同的进一步的其它图像采样数据执行第二种测试。
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