[发明专利]检验防伪元件真伪的方法及装置无效
| 申请号： | 03816668.2 | 申请日： | 2003-07-24 |
| 公开（公告）号： | CN1668478A | 公开（公告）日： | 2005-09-14 |
| 发明（设计）人： | 卡尔海因茨·迈耶;莱因哈德·普拉希卡;乔格·迪普塔 | 申请（专利权）人： | 德国捷德有限公司 |
| 主分类号： | B42D15/00 | 分类号： | B42D15/00;G07D7/12 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 李晓舒;魏晓刚 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种方法，利用该方法由利用右旋和左旋圆偏振过滤器得到的防伪元件的两个图像生成差分图像，并且该方法用于检验防伪元件的真伪，以及涉及一种用于执行该方法的装置。 | ||
| 搜索关键词： | 检验 防伪 元件 真伪 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.用于检验基于液晶材料的防伪元件真伪的方法，该防伪元件具有至少一个具有圆偏振材料的标记，该方法包括以下步骤：-利用用于第一偏振方向的第一圆偏振器过滤入射到防伪元件上的光线或者由防伪元件反射的光线并且记录防伪元件的第一图像；-利用用于第二偏振方向的第二圆偏振器过滤入射到防伪元件上的光线或者由防伪元件反射的光线并且记录防伪元件的第二图像；-由第一和第二图像确定差分图像；-在差分图像的基础上得出有关防伪元件真伪的声明。
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