[发明专利]用于测试集成电路的探测器板无效
| 申请号： | 03816695.X | 申请日： | 2003-05-12 |
| 公开（公告）号： | CN1668931A | 公开（公告）日： | 2005-09-14 |
| 发明（设计）人： | J·E·努尔蒂;B·L·布罗菲;T·A·麦克利里;金波;顾琦;T·J·罗杰斯;J·O·托罗德 | 申请（专利权）人： | 赛普雷斯半导体公司 |
| 主分类号： | G01R31/02 | 分类号： | G01R31/02;H01R12/00;H01L21/44;H01L21/60 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 肖春京 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 在一个实施例中，用于测试集成电路的工作平台包括与测试器相连的第一管芯。第一管芯包括一个可去除连接(510)，该连接配置为使来自第一管芯的信号耦合到正在被测试的第二管芯(520)。可去除连接(510)举例来说可以是弹性体内插件或探测器。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测试 集成电路 探测器 | ||
【主权项】：
1.一种测试工作平台，包括：与测试器相连的第一管芯；用于测试的第二管芯；以及位于所述第一管芯和第二管芯之间的可去除连接，所述可去除连接配置为使来自所述第一管芯的信号连接到第二管芯上的触点。
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