[发明专利]磁检测装置无效
| 申请号： | 03817505.3 | 申请日： | 2003-07-23 |
| 公开（公告）号： | CN1672058A | 公开（公告）日： | 2005-09-21 |
| 发明（设计）人： | W·F·维特克拉夫特 | 申请（专利权）人： | 霍尼韦尔国际公司 |
| 主分类号： | G01R33/09 | 分类号： | G01R33/09 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 王勇 |
| 地址： | 美国新*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 公开了一种磁检测装置。该磁检测装置可以具有集成电路和磁传感器。磁缓冲层材料可以沉积在集成电路和磁传感器之间，以使磁传感器屏蔽集成电路产生的杂散电磁场。磁缓冲层还可以吸收磁检测装置中其他内部源产生的电磁场。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 装置 | ||
【主权项】：
1.一种磁检测装置，包括：一个具有接合表面的集成电路；一个沉积在接合表面的磁屏蔽层，其中所述磁屏蔽层吸收所述集成电路产生的电磁信号；以及一个沉积在所述磁屏蔽层上的磁检测层，使得所述磁检测层基本与所述集成电路对准。
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