[发明专利]光盘驱动设备、测量光盘倾斜的方法及校正光盘倾斜的方法

摘要

在光盘(2)的测量位置(P(r，φ))测量倾斜(θ(r，φ))。将枢轴物镜(34)带到第一聚焦测量位置，以便在第一定位点(P1(r－Δr1，φ))聚焦光束(32)，该第一定位点具有与所述测量位置(P(r，φ))相同的角坐标φ并具有与所述测量位置Δr1的小径向距离。将物镜被带到第二聚焦测量位置，以便在第二定位点(P2(r+Δr2，φ))聚焦光束，该第二定位点具有与所述测量位置(P(r，φ))相同的角坐标φ并具有与所述测量位置Δr2的小径向距离。其中，所述第一和第二定位点位于所述测量位置的相对两侧。可以从所述物镜的所述两个聚焦测量位置的坐标计算出所述测量位置的倾斜。

主权项

1.一种在一种类型的光盘驱动设备中用于在光盘的测量位置测量倾斜的方法，所述一种类型的光盘驱动设备包括：-旋转装置，它定义光盘旋转轴；-光学扫描装置，用于使用光束扫描光盘，所述光学扫描装置包括可移动物镜，用于将光束聚焦在所述光盘上，所述物镜在轴向方向是可移动的，并能关于指向切线方向的轴进行枢轴转动；所述方法包括如下步骤：通过枢轴转动并轴向移动所述物镜，将所述物镜带到第一聚焦测量位置以便将光束聚焦在第一定位点，该第一定位点具有与所述测量位置基本相同的角坐标并距所述测量位置有小径向距离Δr1；通过移动并枢轴转动物镜，将所述物镜带到第二聚焦测量位置以便将光束聚焦在第二定位点，该第二定位点具有与所述测量位置基本相同的角坐标并距所述测量位置有小径向距离Δr2；所述第一和第二定位点位于所述测量位置的相对侧；所述方法还包括由所述物镜的所述两个聚焦测量位置的坐标计算所述测量位置的倾斜的步骤。