[发明专利]易接近的分析装置及其使用方法

摘要

本发明提供了一种分析测试条(10)及盒体(30)。将测试条放置在支架中，支架的形状和结构使得检测器能够从测试条的侧面而不是从纵轴方向接近测试条。支架可以容纳一个或多个测试条，其还可以被设置在支架的一个或多个表面上。优选地，支架通常是呈C型，同时测试条横跨C型两臂之间的空间。将支架进行密封以保护操作人员和仪器免受可能的污染。优选地，测试条包埋有顺磁粒子和用于粒子涂布的化学专用品。利用磁性读取装置可以进行定量分析。在另外的具体实施例中，可以通过目测方法来进行检测。

主权项

1.一种用于检测样品中目标分析物的侧流式分析测试装置，所述装置包括：支架部件(30)，具有暴露在所述支架一侧的内部空间；覆盖元件(39)，具有用于密封所述支架部件的形状和结构；至少一个分析测试条(10)，定位于所述支架内，还将所述测试条夹在所述支架部件和所述覆盖元件之间，所述测试条包括：基底件(24)；分析膜(18)，包括第一端部和第二端部；含有结合物的元件(11)，与所述分析膜的第一端部接触；至少一个俘获区域(15)，位于所述分析膜中的所述第一端部与第二端部之间，所述俘获区用于俘获从所述分析膜的所述第一端部移向所述分析膜的所述第二端部的结合物；所述支架部件中的间隔空间，具有用于提供侧向接近所述测试条的形状和结构，使得当所述测试条仍然安装在所述支架中时能够在所述测试条的俘获区域检测所述目标分析物的存在。