[发明专利]具有临时盘定义结构(TDDS)和临时缺陷列表(TDFL)的盘以及用于管理其缺陷的方法和设备有效
| 申请号： | 03818993.3 | 申请日： | 2003-08-11 |
| 公开（公告）号： | CN1675708A | 公开（公告）日： | 2005-09-28 |
| 发明（设计）人： | 高祯完;李坰根 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11B20/18 | 分类号： | G11B20/18 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人： | 郭鸿禧;韩素云 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 一种具有临时缺陷管理信息区域和缺陷管理区域的盘，包括：缺陷管理区域，位于引入区域、引出区域和外部区域中的至少一个中；临时缺陷信息区域，形成于数据区域中，并且在其中记录临时缺陷信息；和临时缺陷管理信息区域，位于引入区域和引出区域中的至少一个中。因此，可以将用户数据记录在可记录盘尤其是一次写入盘，同时对其执行缺陷管理，从而实现具有有限记录容量的缺陷管理区域的有效使用。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 临时 定义 结构 tdds 缺陷 列表 tdfl 以及 用于 管理 方法 设备 | ||
【主权项】：
1、一种使用在记录和/或再现设备的盘，该盘包括：缺陷管理区域，在盘的引入区域、引出区域、和外部区域中的至少一个中，并且其中可记录缺陷管理信息；数据区域，在其中记录数据；临时缺陷信息区域，在数据区域中，并且包括关于在数据区域中记录的数据的临时缺陷信息；和临时缺陷管理信息区域，在引入区域和引出区域中的至少一个中，并且被记录和/或再现设备使用以访问临时缺陷信息。
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