[发明专利]集成电路及其制造方法有效
| 申请号： | 03819383.3 | 申请日： | 2003-07-01 |
| 公开（公告）号： | CN1675768A | 公开（公告）日： | 2005-09-28 |
| 发明（设计）人： | A·C·L·希斯塞斯 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | H01L23/544 | 分类号： | H01L23/544;H01L23/58 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 吴立明;梁永 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 根据本发明的集成电路(1)包括一组单元(10)，每一单元(11、13、15、19)包括具有器件参数的电子器件(20)，该器件参数的参数值为随机参数变化的函数。该组单元(10)包括具有第一随机参数变化的第一子组(12)的识别单元(13)；和第二子组(14)的单元(11、15、19)，其能够通过测量识别单元(13)的参数值之间的随机差来产生识别代码。根据本发明，第二子组(14)的单元(11、15、19)具有小于第一随机参数变化的第二随机参数变化，由此使识别代码的产生相对较容易。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 及其 制造 方法 | ||
【主权项】：
1、一种集成电路(1)，包括一组单元(10)，每一单元(11、13、15、19)包括具有器件参数的电子器件(20)，该器件参数具有作为随机参数变化的函数的参数值，该组单元(10)包括：- 第一子组(12)的识别单元(13)；和- 第二子组(14)的单元(11、15、19)，用于通过测量识别单元(13)的参数值来产生识别代码，其特征在于：识别单元(13)具有第一随机参数变化，而第二子组(14)的单元(11、15、19)具有第二随机参数变化，第一随机参数变化大于第二随机参数变化。
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