[发明专利]采用磁性颗粒的具有内部自校正系统的流式测定有效
| 申请号： | 03819393.0 | 申请日： | 2003-07-10 |
| 公开（公告）号： | CN1675547A | 公开（公告）日： | 2005-09-28 |
| 发明（设计）人： | 宋旭东;R·凯洛 | 申请（专利权）人： | 金伯利－克拉克环球有限公司 |
| 主分类号： | G01N33/543 | 分类号： | G01N33/543 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 韦欣华;庞立志 |
| 地址： | 美国威*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明提供了一种用于检测试样中分析物的存在或量的基于膜的测定装置。该装置利用自校正的磁性结合测定形式(例如夹层测定，竞争性测定等等)，包括能产生检测信号的检测探针(例如荧光非磁性颗粒)以及能产生校正信号的校正探针(例如荧光磁性颗粒)。试样中分析物的量与由校正信号强度值校正后的检测信号的强度值成比例(如正比或者反比)。已发现本发明的基于流控技术的装置能提供用于测定试样中分析物存在的精确、廉价、并且易于控制的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 采用 磁性 颗粒 具有 内部 校正 系统 测定 | ||
【主权项】：
1.一种用于检测试样中分析物的存在或者量的基于膜的测定装置，所述装置包括：与可产生检测信号的检测探针和可产生校正信号的磁性校正探针流体连通的多孔膜，所述多孔膜界定了检测区；以及设置在邻近所述检测区处的磁性装置，其中所述磁性装置能够将所述检测探针和所述校正探针从施加到所述多孔膜上的试样中分离出来，其中所述试样中分析物的量与在所述检测区由所述分离的检测探针产生的检测信号强度成比例，所述检测信号经所述检测区中由所述分离的校正探针产生的校正信号强度校正。
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