[发明专利]使用离散气体切换方法的高纵横比/深度蚀刻中的侧壁平滑有效
申请号: | 03819460.0 | 申请日: | 2003-08-13 |
公开(公告)号: | CN1675750A | 公开(公告)日: | 2005-09-28 |
发明(设计)人: | 大卫·约翰逊;拉塞尔·韦斯特曼;赖守良 | 申请(专利权)人: | 优利讯美国有限公司 |
主分类号: | H01L21/311 | 分类号: | H01L21/311 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 钟强;谷惠敏 |
地址: | 美国佛*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明提供了一种用于将气体引入交替的等离子体蚀刻/淀积室中改进方法。为了使淀积和蚀刻剂气体供应源开启和关闭时引入到交替的蚀刻/淀积室中的压力脉冲最小,使用质量流量控制器提供相对恒定的气流。提供气体旁路和气体排放口,由此在关闭至交替的蚀刻/淀积室的气体入口时提供用于来自质量流量控制器的气流的交替路径。提供旁路和排放口使接收自质量流量控制器的气体压力维持在基本恒定的水平。气体压力脉冲的消除或者最小化有助于增加在交替的蚀刻/淀积交替室中蚀刻在硅衬底中的高纵横比特征的壁的平滑度。 | ||
搜索关键词: | 使用 离散 气体 切换 方法 纵横 深度 蚀刻 中的 侧壁 平滑 | ||
【主权项】:
1.一种用于改进的气体切换的设备,所述设备包括:等离子体室;至少一个等离子体源,用于在所述等离子体室中产生等离子体;衬底支架,其位于所述等离子体室中;蚀刻剂气体供应源,其具有用于向所述等离子体室提供蚀刻剂气体的相关气体入口和用于排放所述蚀刻剂气体的相关气体旁路;淀积气体供应源,其具有向所述等离子体室提供淀积气体的相关气体入口和用于排放所述淀积气体的相关气体旁路;气体控制开关,用于控制所述蚀刻剂气体供应源和所述淀积气体供应源中的至少一个,由此使所述至少一个气体供应源的所述气体入口和所述气体旁路被配置成使得在所述气体入口关闭时气体流动旁路该室。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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