[发明专利]光学存储系统和控制方法无效

专利信息
申请号: 03820061.9 申请日: 2003-01-20
公开(公告)号: CN1679092A 公开(公告)日: 2005-10-05
发明(设计)人: 山下知纪 申请(专利权)人: 富士通株式会社
主分类号: G11B7/085 分类号: G11B7/085
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 党建华
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及光学存储系统和控制方法,其中在插入介质时,在由聚焦拉入控制单元在介质径向中的预定点上拉入物镜焦点的状态下,基准位置学习单元测量介质旋转一圈的电流,计算电流的平均电流值,并把计算的平均电流值储存在存储器中,作为用于把物镜定位在基准位置上的基准电流值,其中,从基准位置开始聚焦拉入控制。在学习处理之后执行的聚焦拉入中,基准位置控制单元根据基准电流把物镜定位在通过学习处理获得的基准位置上,接着使聚焦拉入控制单元执行聚焦拉入。
搜索关键词: 光学 存储系统 控制 方法
【主权项】:
1.一种光学存储系统,所述光学存储系统具有在与介质轨道交叉的方向上移动物镜的托架致动器,其中,物镜用于以光束照射介质,在朝着介质的方向上移动物镜的透镜致动器,聚焦误差信号产生电路,所述聚焦误差信号产生电路根据接收的从介质返回光的输出,而产生表示光束焦点与介质记录层之间偏差的聚焦误差信号,以及聚焦拉入控制单元,在介质旋转的状态下,在物镜沿朝着介质的方向移动预定距离之后,所述聚焦拉入控制单元在聚焦误差信号与零相交的点闭合聚焦伺服环路,同时缓慢地在远离介质的方向上移动物镜,光学存储系统包括:基准位置学习单元,在插入介质时,在由聚焦拉入控制单元在介质径向中的预定点上拉入物镜焦点的状态下,所述基准位置学习单元测量介质旋转一圈的电流,计算电流的平均电流值,并把计算的平均电流值储存在存储器中,作为用于把物镜定位在基准位置上的基准电流值,其中,从基准位置开始聚焦拉入控制;以及基准位置控制单元,当在学习处理之后执行聚焦拉入时,所述基准位置控制单元在根据基准电流定位物镜之后使聚焦拉入控制单元执行聚焦拉入。
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