[发明专利]用于探测被分析物的元件无效

专利信息
申请号: 03820113.5 申请日: 2003-06-27
公开(公告)号: CN1768261A 公开(公告)日: 2006-05-03
发明(设计)人: J·许莱因;C·库格勒;B·梅里克;H·科萨克;J·哈斯曼;B·格拉斯尔;D·库尔梅尔 申请(专利权)人: 诺文伯股份公司
主分类号: G01N27/30 分类号: G01N27/30;C12Q1/68
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 卢新华;李连涛
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明涉及一种用来探测液体中的被分析物的元件(17),它具有多个排列在不透液体的不导电板(10)的第一侧(12)上但彼此绝缘的电极(15)。所述电极(15)至少部分地具有一个对被分析物特定的涂层或对被分析物特定的分子。贯穿板(10)的导电体可以,从板的第二侧(14),电接触并单独输出。所述涂层或分子对被分析物或由于被分析物的存在而形成的一种物质有特定亲合力。此外,所述元件没有渗漏。
搜索关键词: 用于 探测 分析 元件
【主权项】:
1.一种用来检测液体中的被分析物的元件(17),它具有多个彼此绝缘并排列在不透液体的不导电板(10)的第一侧(12)上的电极(15),所述电极(15)至少部分地具有对被分析物特定的涂层或对被分析物特定的分子并能通过贯穿所述板(10)的导电体从该板的第二侧(14)电接触连接和单独导出,所述涂层或分子由于对被分析物或由于被分析物的存在而形成的物质具有特定的亲合力,所以对被分析物是特定的,且所述元件没有引出线。
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