[发明专利]在开口中形成导电材料的方法和与其相关的结构无效
申请号: | 03820195.X | 申请日: | 2003-08-28 |
公开(公告)号: | CN1679160A | 公开(公告)日: | 2005-10-05 |
发明(设计)人: | H·E·罗德斯;R·H·莱恩 | 申请(专利权)人: | 微米技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768;H01L21/334 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 韦欣华;段晓玲 |
地址: | 美国爱*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 使用支撑层辅助平面化处理以在开口内形成导电材料(例如VIII族金属)的方法和结构。而且,这种方法和结构可以使用VIII族金属作为平面化处理的蚀刻终止或终点,随后蚀刻除去不需要的VIII族金属部分。在开口内提供导电材料(44)的一个典型方法包括,提供具有至少一个表面的基底组件,并提供通过基底组件表面限定的开口。开口由至少一个表面限定。至少一种导电材料(44)(例如至少一种VIII族金属,如铂和/或铑)形成在开口内限定该开口的至少一个表面上,并且形成在基底组件表面的一部分上。支撑膜(46)(例如氧化物材料)形成在导电材料上,并且填充材料(48)(例如光刻胶材料)形成在支撑膜的至少一部分上。所述填充材料至少填充开口。然后,至少开口外面的填充材料通过平面化除去。然后除去开口外部的支撑膜、开口外部的所述至少一种导电材料、开口内部的填充材料和开口内部的支撑膜。 | ||
搜索关键词: | 开口 形成 导电 材料 方法 与其 相关 结构 | ||
【主权项】:
1.一种在开口中提供导电材料的方法,所述方法包括:提供具有至少一个表面的基底组件;提供穿过基底组件表面限定的开口,其中开口通过至少一个表面限定;至少一种导电材料形成在开口内部限定该开口的至少一个表面上,并形成在基底组件表面的至少一部分上;在所述至少一种导电材料上形成支撑膜;在支撑膜的至少一部分上形成填充材料,其中填充材料至少填充开口;通过平面化至少除去开口外的填充材料;除去开口外部的支撑膜;除去开口外的所述至少一种导电材料;除去开口内的填充材料;和除去开口内的支撑膜。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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