[发明专利]评估微阵列质量的方法

摘要

本发明涉及评估微阵列质量的方法和组合物。具体地，本发明涉及在逐步合成中通过单体在微阵列上合成的质量控制探针的用途。通过评估来自质量控制探针的信号程度和确定它们与预期的信号强度的偏离，可以确定微阵列合成的质量。本发明还涉及检测微阵列的保存和处理过程中发生的缺陷的方法。本发明还涉及使用计算机鉴定具有合成、保存或处理过程中的一个或多个缺陷的微阵列。

主权项

1.位置可寻址阵列，其含有粘附许多不同生物聚合物探针的基质，所述许多探针中所述不同生物聚合物探针位于所述表面上的不同位置并且是所述基质上所述生物聚合物探针的逐步合成产物，所述许多不同结合探针含有许多质量控制探针，所述许多质量控制探针中的每个质量控制探针含有(i)相同的预定结合序列或(ii)具有相同结合特异性的不同的预定结合序列，每个所述质量控制探针中所述预定结合序列的合成在序贯合成周期的所述逐步合成过程中被启动。