[发明专利]多孔质薄膜的改质方法及被改质的多孔质薄膜及其用途有效

专利信息
申请号: 03821314.1 申请日: 2003-09-08
公开(公告)号: CN1681737A 公开(公告)日: 2005-10-12
发明(设计)人: 高村一夫;大池俊辅;洼田武司;村上雅美;藏野义人 申请(专利权)人: 三井化学株式会社
主分类号: C01B33/12 分类号: C01B33/12;H01L21/316;C09D183/02;C09D183/04
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 代理人: 钟晶
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明为一种主要由Si-O结合构成的多孔质薄膜的改质方法,其将具有1个或1个以上的Si-X-Si结合单元(X表示O、NR、CnH2n或C6H4、R表示CmH2m+1或C6H5、m为1~6的整数、n为1或2)、和2个或2个以上的Si-A结合单元(A表示H、OH、OCeH2e+1或卤原子、e为1~6的整数)(同一分子内的A相同或相异均可)的有机硅化合物与该多孔质薄膜接触,并进行不使用金属催化剂的热处理。由该方法取得的多孔质薄膜,其疏水性和机械强度均相当优异,故可以使用于光机能材料、电子机能材料。尤其是非常适用于半导体用材料,可以适用作为半导体装置的层间绝缘膜。
搜索关键词: 多孔 薄膜 方法 被改质 及其 用途
【主权项】:
1.多孔质薄膜的改质方法,其特征在于:将具有1个或1个以上的Si-X-Si结合单元(X表示O、NR、CnH2n或C6H4、R表示CmH2m+1或C6H5、m为1~6的整数、n为1或2)、和2个或2个以上的Si-A结合单元(A表示H、OH、OCeH2e+1或卤原子、e为1~6的整数)(同一分子内的A相同或相异均可)的有机硅化合物与主要由Si-O结合构成的多孔质薄膜接触,并进行不使用金属催化剂的热处理。
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