[发明专利]用于自测和修复存储模块的系统和方法无效
| 申请号： | 03824359.8 | 申请日： | 2003-08-05 |
| 公开（公告）号： | CN1703755A | 公开（公告）日： | 2005-11-30 |
| 发明（设计）人： | 约瑟夫·M·杰迪洛 | 申请（专利权）人： | 米克伦技术公司 |
| 主分类号： | G11C7/00 | 分类号： | G11C7/00;G11C29/00;G01R31/28 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 王英 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 用于测试和修复位于存储器模块上存储器设备的损坏的存储器部分的计算机系统和方法。该计算机系统包括耦合至多个存储器模块的存储器集线器控制器，每个存储器模块均包括存储器集线器和多个存储器设备。该存储器集线器包括自测模块，用于确定存储器设备的损坏的存储单元的位置。所述存储器集线器中还包括修复模块，该修复模块使用损坏的存储器部分的位置来创建重映射表。该重映射表把对存储器设备的损坏单元的访问重定向至未损坏存储单元。每当该存储器集线器接收来自于存储器访问设备的存储器请求时，该存储器集线器就检查被定向访问的存储单元，并且必要时，把存储器访问重定向至未损坏单元。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 自测 修复 存储 模块 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种存储器模块，包括：多个存储器设备；以及一个存储器集线器，包括：自测模块，耦合到至少一个所述存储器设备，该自测模块响应于请求来测试至少一个所述存储器设备，该自测模块还用于识别所述存储器设备的损坏的存储单元；以及修复模块，耦合至该自测模块以及至少一个所述存储器设备，该修复模块响应于对所述存储器设备的损坏的存储单元的存储器请求来把所述存储器请求重定向至所述存储器设备的未损坏的存储单元。
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