[发明专利]评测迭片磁芯压力的方法和系统有效
| 申请号： | 03826453.6 | 申请日： | 2003-05-21 |
| 公开（公告）号： | CN1771436A | 公开（公告）日： | 2006-05-10 |
| 发明（设计）人： | 杰拉尔德·B·克利曼;约翰·A·马利克;马诺杰·R·沙;李桑冰 | 申请（专利权）人： | 通用电气公司 |
| 主分类号： | G01N27/90 | 分类号： | G01N27/90;H02K15/02 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 王冉;王景刚 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种评测磁芯(10)迭片(18)压力的方法包括：将磁轭(12，112，212，312，412)定位于磁芯附近，磁轭被激励绕组(14)缠绕；向激励绕组供给电流从而将磁通量注入磁芯；测量由注入磁通量得到的信号；以及使用所述测得信号评测迭片磁芯压力。一种用于实施该方法的系统(56)包括所述磁轭；用于供给电流的电流源(30)；用于测量所述信号的传感器(32或36)；以及使用所述测得信号评测所述迭片磁芯压力的计算机(28)。 | ||
| 搜索关键词： | 评测 迭片磁芯 压力 方法 系统 | ||
【主权项】：
1、一种评测磁芯(10)迭片(18)压力的方法，包括：(a)将磁轭(12，112，212，312，412)定位于所述磁芯附近，所述磁轭被激励绕组(14)缠绕；(b)向所述激励绕组供给电流从而将磁通量注入所述磁芯；(c)测量由所述注入磁通量得到的信号；以及(d)使用所述测得信号评测所述迭片磁芯的压力。
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