[发明专利]半导体装置无效

专利信息
申请号: 03826553.2 申请日: 2003-07-31
公开(公告)号: CN1771602A 公开(公告)日: 2006-05-10
发明(设计)人: 野村浩 申请(专利权)人: 富士通株式会社
主分类号: H01L27/04 分类号: H01L27/04;H01L27/06
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 代理人: 高龙鑫;王玉双
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种具有由形成在硅基板(10)上的多晶硅膜所构成的电阻元件(26)的半导体装置,电阻元件(26)具有:电阻部(26a),其电阻值被设定为规定的值;接触部(26b),其形成在电阻部(26a)的两端部,并与施加固定电位的配线相连接;散热部(26c),其与接触部(26b)相连接。从而,能够提供一种具有寄生电容小、且散热性优越的电阻元件的半导体装置。
搜索关键词: 半导体 装置
【主权项】:
1.一种半导体装置,其具有由形成在半导体基板上的多晶硅膜构成的电阻元件,其特征在于,上述电阻元件具有:电阻部,其将电阻值设定为规定的值;接触部,其形成于上述电阻部的端部,且与施加固定电位的配线相连接;散热部,其与上述接触部相连接。
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