[发明专利]具有改善半导体组件电阻与电感值的集成电路封装有效
申请号: | 03826785.3 | 申请日: | 2003-07-14 |
公开(公告)号: | CN1839471A | 公开(公告)日: | 2006-09-27 |
发明(设计)人: | 罗礼雄;安荷·叭剌;何约瑟;雷燮光;张复兴 | 申请(专利权)人: | 万国半导体股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/48 | 分类号: | H01L21/48;H01L23/495 |
代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 | 代理人: | 张静洁 |
地址: | 百慕大*** | 国省代码: | 百慕大群岛;BM |
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摘要: | 一种半导体集成电路的封装,包含一导线架(108),该导线架(108)包含一设置于晶粒(100)下的导线架平台(103a)及一设置于该晶粒中至少两个邻近侧面的接合金属区域(101a)。此接合金属区域(101a)的增加会增加此金属区域(101a)和晶粒(100)之间相互连接的数目,以减少电阻和电感。此外,如果从封装的塑料壳体(106)伸展出的外部终端设备的表面区域在未达到最大值时继续增加,就能够更快速进行散热并且减少外部终端阻力。此集成电路适用于MOSFET装置,并且将上述接合金属区域(101a)作为源极(101)。该接合金属区域可以是“L”形状、“C”形状、“J”形状、“I”形状,或者是上述形状的任何组合。 | ||
搜索关键词: | 具有 改善 半导体 组件 电阻 电感 集成电路 封装 | ||
【主权项】:
1.一种半导体集成电路封装,其包含:一晶粒结构,包含一集成电路;以及一导线架,该导线架包含有一个设置于此晶粒结构下的一导线架平台,和一金属接合区域,该金属接合区域含有一沿着晶粒结构的第一面的一部分长度分布的第一部分,和一沿着晶粒结构的第二面的实质长度分布的第二部分。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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