[其他]光调制自动光测弹性应力的方法和装置在审
| 申请号： | 101985000000284 | 申请日： | 1985-04-01 |
| 公开（公告）号： | CN85100284B | 公开（公告）日： | 1985-09-10 |
| 发明（设计）人： | 张远鹏;王楚;张合义;朱美栋;施来荣;陆燕仲;武润玺;柴玉明 | 申请（专利权）人： | 北京大学 |
| 主分类号： | 分类号： | ||
| 代理公司： | 北京大学专利代理事务所 | 代理人： | 俞达成 |
| 地址： | 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 光调制自动光测弹性应力的方法和装置，属于光测弹性应力技术领域。采用非单色光源以便于作双波长测量，达到可测任意条纹级数值的目的。采用电光调制器以利用其电致双折射特性实现补偿消光。在被测模型前后加有一对旋光器以便得到被测模型相对于正交偏振光场的转动效应。测量过程在微处理机控制下自动进行，测量结果以电信号送微处理机作数据自动处理。本发明提高了光测弹性应力的自动化程度，缩短了测量周期，提高了测量精度。 | ||
| 搜索关键词： | 调制 自动 弹性 应力 方法 装置 | ||
【主权项】：
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